超聲波探傷儀根據波動傳播時介質質點的振動方向相對于波的傳播方向的不同，可將波分,超聲波波形,超聲波探傷的物理基礎,滲透滲出探傷：檢測材料表面啟齒性缺陷。超聲波探傷儀還有就是一些特殊探頭好比雙晶直探頭是做＜20的，縱波斜探頭等詳細看你做什么，根據什么尺度, 超聲波探傷儀受檢工件的表面耦合損失及材質衰減應與試塊相同,否則應進行傳輸損失修整見附錄E,在1跨距聲程內最大傳輸損失差在2dB以內可不進行修整。探傷面曲率半徑R小于即是W2/4時,間隔--波幅曲線的繪制應在曲面臨比試塊長進行。探測橫向缺陷時,應將各線敏捷度均進步6dB。間隔----波幅曲線由選用的儀器、探頭系統在對比試塊上的實測數據繪制見圖8,其繪制方法見附錄D,曲線由判廢線RL,定量線SL和評定線EL組成,不同驗收級別的各線敏捷度見表3.表中的DAC是以Φ3mm尺度反射體繪制的間隔--波幅曲線--即DAC基準線.評定線以上至定量線以下為1區(弱信號評定區);定量線至判廢線以下為Ⅱ區(長度評定區);判廢線及以上區域為Ⅲ區(判廢區)。間隔----波幅(DAC)曲線的繪制。探傷面曲率半徑R小于即是W2/4時,探頭楔塊應磨成與工件曲面相吻合,在6.2.3條劃定的對比試塊上作時基線掃描調節。 探傷面曲率半徑R大于W2/4時,可在平面臨比試塊上或與探傷面曲率相近的曲面臨比試塊上,進行時基線掃描調節。探傷面為平面時,可在對比試塊長進行時基線掃描調節,掃描比例依據工件工和選用的探頭角度來確定,最大檢修范圍應調至熒光屏時基線滿刻度的2/3以上，熒光屏時基線刻度可按比例調節為代表缺陷的水平間隔。記實:凡缺陷信號幅度超過熒光屏滿幅20%的部位,應在工件表面作出標記,并予以記實。敏捷度:將無缺陷處二次底波調節為熒光屏滿幅的100%。探傷儀方法:接觸式脈沖反射法,采用頻率2-5MHz的直探頭,晶片直徑10-25mm。采用C級檢修時,斜探頭掃查聲束通過的母材區域應用直探頭作檢查,以便探測是否有有探傷結果解釋的分層性或其他缺陷存在.該項檢查僅作記實,不屬于對母材的驗收檢修.母材檢查的規程要點如下：在試塊上調節儀器和產品檢修應采用相同的耦合劑。典型的耦合劑為水、機油、甘油和漿糊,耦合劑中可加入適量的"潤濕劑"或活性劑以便改善耦合機能。

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